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Acreditação Nº 687
Data da Acreditação 31/01/2019
ACREDITAÇÃO VIGENTE Clique aqui para mais informações.
Última Revisão do Escopo 06/06/2022
Razão Social 3D Metrologia Ltda.
Nome do Laboratório 3D Metrologia Ltda.
Situação Ativo
Endereço Rua Jacob Jaeger, 187
Bairro Cristo Rei
CEP 93020510
Cidade São Leopoldo
UF RS
Telefone (51) 3592.9810
Fax

Grupo de Serviço de Calibração DIMENSIONAL
Gerente Técnico Adroaldo da Silva Silveira
Email adroaldo@3dmetrologia.com.br

ESCOPO DA ACREDITAÇÃO - ABNT NBR ISO/IEC 17025 - CALIBRAÇÃO


Descrição do Serviço Parâmetro, Faixa e Método Capacidade de Medição e Calibração (CMC)

(Realizados nas instalações permanentes)

INSTRUMENTOS E GABARITOS DE MEDIÇÃO DE COMPRIMENTO
Medidor de AlturaAté 600 mm 0,0017 mm até 0,0020 mm
> 600 mm até 1000 mm 0,0020 mm até 0,0023 mm
Método de comparação com blocos padrão e/ou padrão escalonado ou com máquina de medição por coordenadas
Micrômetro de ProfundidadeAté 300 mm 0,0029 mm
Método de comparação com máquina de medição por coordenadas
Micrômetro ExternoAté 100 mm 0,001 nm a 0,002 mm
> 100 mm até 1500 mm 0,0020 mm até 0,0039 mm
Paralelismo 0,00057 mm
Planeza 0,00038 mm
Método de comparação com blocos padrão ou com máquina de medição por coordenadas.
Método de medição com paralelos ópticos ou bloco padrão
PaquímetroAté 300 mm 0,01 mm
> 300 nm até 1500 mm 0,010 nm a 0,015 mm
Método de comparação com bloco padrão e calibrador anel liso ou máquina de medição por coordenadas
Método de comparação com micrômetro (medição dos bicos, se aplicável)
Relógio ApalpadorAté 2 mm 0,0004 mm
Método de medição com máquina de medição linear, comparador de deslocamento eletrônico ou calibrador de relógios
Relógio ComparadorAté 100 mm 0,0004 mm
Método de medição com máquina de medição linear, comparador de deslocamento eletrônico ou calibrador de relógios

MÁQUINAS DE MEDIÇÃO
Máquina de Medição de FormaSensibilidade do Apalpador 0,50 µm
Circularidade 0,05 µm
Cilindricidade até 440 mm 0,61 µm 0,41 µm
Retitude vertical até 440 mm 0,29 µm
Retitude horizontal até 54 mm 0,14 µm
Paralelismo até 440 mm 0,46 µm
Planeza até 54 mm 0,08 µm
Método de comparação com cilindro padrão, padrão de amplificação radial, semiesfera padrão e plano óptico
Maquina de Medição de PerfilEixo X até 83 mm 0,002 mm
Eixo Z até 40 mm [0,00015 +L/76900] mm, onde L em mm
Raio até 10 mm 0,0013 mm
Angular até 91° 0,011°
Método de comparação com padrão de perfil e bloco padrão
Máquina de Medição LinearAté 20000 mm [0,00011 +L/1080000] mm, onde L em mm
Método de comparação com blocos padrão/laser interferométrico
Máquina de Medição por CoordenadasAté 20000 mm [0,2 + L/1150] µm, onde L distância em mm
Perpendicularidade 0,0019 mm
Planeza 0,0013 mm
Distância 0,0013 mm
Circularidade 0,0013 mm
Método de comparação com laser interferométrico/padrão escalonado/peça padrão de referência
Projetor de Perfilaté 300 mm 0,002 mm
até 360º 01´ 12"
Método de comparação com régua graduada e padrão angular
Sistema de Medição Óptico TridimensionalMedição óptica até 300mm [0,002 + L/300000] mm, onde L em mm
Apalpação por imagem até 50 mm 0,001 mm
Medição por foco até 100 mm 0,001 mm
Perpendicularidade até 360º 0,003 mm/01´12´
Método de comparação com régua graduada, padrão angular e bloco padrão

MEDIÇÃO DE PEÇAS DIVERSAS E COMPONENTES
Medição de Forma, Posição e Orientação em Peças DiversasParalelismo até (900 x 1600 x 800) mm 0,0042 mm
Concentricidade até (900 x 1600 x 800) mm 0,0042 mm
Coaxialidade até (900 x 1600 x 800) mm 0,0042 mm
Simetria até (900 x 1600 x 800) mm 0,0042 mm
Posição de um elemento até (900 x 1600 x 800) mm 0,0042 mm
Batimento Radial até (900 x 1600 x 800) mm 0,0042 mm
Batimento Axial até (900 x 1600 x 800) mm 0,0042 mm
Perfil de linha até (900 x 1600 x 800) mm 0,0042 mm
Perfil de superfície até (900 x 1600 x 800) mm 0,0042 mm
Inclinação até (900 x 1600 x 800) mm 0,0042 mm
Retitude até (900 x 1600 x 800) mm 0,0042 mm
Planeza até (900 x 1600 x 800) mm 0,0042 mm
Circularidade até (900 x 1600 x 800) mm 0,0042 mm
Cilindricidade até (900 x 1600 x 800) mm 0,0042 mm
Perpendicularidade até (900x1600x800) mm 0,0042 mm
Método de comparação utilizando máquinas, instrumentos, gabaritos ou padrões de referência.
Medições Lineares em Peças Diversas e Componentes0 até 500 mm 0,0006 mm até 0,0027 mm
> 500 mm até 1600 mm 0,0047 mm até 0,0098 mm
Ângulo até 360º 2,5´
Método de comparação utilizando máquinas, instrumentos, gabaritos ou padrões de referência

PADRÕES DE COMPRIMENTO
Calibrador Anel Liso Cilíndrico6 mm até 200 mm 0,0009 mm até 0,0016 mm
Cilindricidade 0,0038 mm
Circularidade 0,0042 mm
Método de comparação com calibrador anel liso cilíndrico utilizando máquina de medição linear ou máquina de medição por coordenadas
Esfera PadrãoAté 100 mm 0,0005 mm até 0,0009 mm
Método de comparação com máquina de medição linear

PADRÕES DE FORMA, POSIÇÃO E ORIENTAÇÃO
DesempenoAté 1700 mm 1,8 µm
Medição das alturas dos pontos de referência definidos no mapeamento utilizando-se nível eletrônico, para determinação do erro de planeza

(Realizados nas instalações do cliente)

INSTRUMENTOS E GABARITOS DE MEDIÇÃO DE COMPRIMENTO
Medidor de AlturaAté 600 mm 0,0017 mm até 0,0020 mm
> 600 mm até 1000 mm 0,0020 mm até 0,0023 mm
Método de comparação com blocos padrão e/ou padrão escalonado
Micrômetro ExternoAté 100 mm 0,001 mm até 0,002 mm
Paralelismo 0,00057 mm
Planeza 0,00038 mm
Método de comparação com blocos padrão ou com máquina de medição por coordenadas Método de medição com paralelos ópticos ou bloco padrão
Paquímetroaté 300 mm 0,01 mm
Método de comparação com bloco padrão e calibrador anel liso
Método de comparação com micrômetro (medição dos bicos, se aplicável)
Relógio ApalpadorAté 2 mm 0,0004 mm
Método de medição com comparador de deslocamento eletrônico ou calibrador de relógios
Relógio ComparadorAté 25 mm 0,0004 mm
Método de medição com comparador de deslocamento eletrônico ou calibrador de relógios

MÁQUINAS DE MEDIÇÃO
Máquina de Medição de FormaSensibilidade do Apalpador 0,25 µm
Circularidade 0,03 µm
Cilindricidade até 440 mm 0,41 µm
Retitude vertical até 440 mm 0,27 µm
Retitude horizontal até 54 mm 0,14 µm
Paralelismo até 440 mm 0,87 µm
Planeza até 54 mm 0,05 µm
Método de comparação com cilindro padrão, padrão de amplificação radial, semiesfera padrão e plano óptico
Maquina de Medição de PerfilEixo X até 83 mm 0,0007 mm até 0,0012 mm
Eixo Z até 40 mm 0,0002 mm até 0,0007 mm
Angular até 91° 0,0067 °
Raio até 10 mm 0,0006 mm
Método de comparação com padrão de perfil e bloco padrão
Máquina de Medição LinearAté 100 mm 0,00026 mm até 0,00032 mm
> 100 mm até 1000 mm 0,00032 mm até 0,0010 mm
> 1000mm até 20000 mm 0,001 mm até 0,019 mm
Método de comparação com blocos padrão/laser interferométrico
Máquina de Medição por CoordenadasAté 600 mm 0,7 µm até 1,0 µm
Método de comparação com peça padrão de referência
> 600 mm até 20000 mm 1,0 µm até 34 µm
Perpendicularidade 0,0010 mm
Distância 0,0013 mm
Planeza 0,0013 mm
Circularidade 0,0049 mm
Método de comparação com laser interferométrico/padrão escalonado/peça padrão de referência
Projetor de PerfilAté 300 mm 0,002 mm
Até 360º 1.2´
Método de comparação com régua graduada e padrão angular
Sistema de Medição Óptico TridimensionalMedição óptica aé 300 mm 0,001mm até 0,002 mm
Apalpação por imagem até 50 mm 0,001 mm
Medição por foco até 100 mm 0,001 mm
Perpendicularidade até 360º 0,003 mm/1.2´
Método de comparação com régua graduada, padrão angular, bloco padrão e anel padrão

PADRÕES DE FORMA, POSIÇÃO E ORIENTAÇÃO
DesempenoAté 1700 mm 1,8 µm
Medição das alturas dos pontos de referência definidos no mapeamento utilizando-se nível eletrônico, para determinação do erro de planeza



Observações:

  1. A capacidade de medição e calibração (CMC) refere-se á menor incerteza que o Laboratório é capaz de obter, com uma probabilidade de abrangência ou nível da confiança de aproximadamente 95%. Caso o laboratório utilize mais de um método para realizar uma determinada calibração ou medição, a CMC se referirá ao método pelo qual o laboratório obtém a menor incerteza de medição. (Ver NIT-Dicla-021)
  2. A CMC identificada por um asterisco (*) não inclui todas as contribuições oriundas do instrumento ou padrão calibrado ou do dispositivo medido.
  3. O Laboratório poderá declarar em seus certificados de calibração, incertezas de medição maiores que a sua CMC, devido às contribuições relativas ás propriedades ou características do padrão ou instrumento de medição calibrado.